咨询/建议
位数：16，采样率（每秒）：5M，输入数：1，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 串行
位数：16，数模转换器数：8，建立时间：15µs（标准），输出类型：Voltage - Buffered，差分输出：无
位数：16，数模转换器数：2，建立时间：500ns（标准），输出类型：Current - Unbuffered，差分输出：无
位数：14，采样率（每秒）：80M，输入数：1，输入类型：差分，单端，数据接口：并联
位数：16，数模转换器数：8，建立时间：10µs（标准），输出类型：Voltage - Buffered，差分输出：无
位数：16，采样率（每秒）：5M，输入数：4，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 并联，SPI
位数：16，数模转换器数：8，建立时间：15µs（标准），输出类型：Voltage - Buffered，差分输出：无
位数：24，采样率（每秒）：1k，输入数：2，输入类型：差分，数据接口：SPI
位数：24，采样率（每秒）：1k，输入数：3，5，输入类型：差分，个伪差分，数据接口：SPI，DSP
位数：16，数模转换器数：2，建立时间：10µs，输出类型：Voltage - Buffered，差分输出：无
位数：16，采样率（每秒）：5M，输入数：4，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 串行，SPI
电流 - 供电：2.2 mA，电压 - 供电：±3V ~ 18V，安装类型：通孔，封装/外壳：14-CDIP（0.300"，7.62mm）
位数：16，采样率（每秒）：1.6M，输入数：8，输入类型：差分，个伪差分，单端，数据接口：SPI
位数：18，数模转换器数：1，建立时间：1µs（标准），输出类型：Voltage - Unbuffered，差分输出：无
分辨率（位）：10 b，主 fclk：1 GHz，字宽调谐（位）：32 b，电压 - 供电：3.14V ~ 3.47V，工作温度：-40°C ~ 85°C
位数：16，数模转换器数：4，建立时间：20µs（标准），输出类型：Voltage - Buffered，差分输出：无
位数：14，采样率（每秒）：80M，输入数：4，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 串行
位数：16，数模转换器数：5，建立时间：8.7ms（标准），输出类型：Current - Unbuffered，差分输出：无
位数：14，采样率（每秒）：25M，输入数：2，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 串行
位数：18，采样率（每秒）：15M，输入数：1，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 串行
类型：DCL，应用：自动测试设备，安装类型：表面贴装型，封装/外壳：84-VFQFN 裸露焊盘，CSP
位数：16，数模转换器数：5，建立时间：8.7ms（标准），输出类型：Current - Unbuffered，差分输出：无
位数：12，采样率（每秒）：125M，输入数：1，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 并行，并行
位数：14，采样率（每秒）：80M，输入数：1，输入类型：差分，单端，数据接口：并联
位数：14，数模转换器数：1，建立时间：12ns（标准），输出类型：Current - Unbuffered，差分输出：是
位数：14，采样率（每秒）：160M，输入数：2，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 并行，并行
位数：14，采样率（每秒）：105M，输入数：1，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 并联
位数：24，采样率（每秒）：1M，输入数：1，输入类型：个伪差分，数据接口：SPI
位数：14，采样率（每秒）：25M，输入数：4，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 串行
类型：DCL，应用：自动测试设备，安装类型：表面贴装型，封装/外壳：100-TQFP 裸露焊盘
位数：14，数模转换器数：1，建立时间：11ns（标准），输出类型：Current - Unbuffered，差分输出：是
位数：16，采样率（每秒）：20M，输入数：2，输入类型：差分，数据接口：LVDS - 串行
位数：14，数模转换器数：8，建立时间：7µs，输出类型：Voltage - Buffered，差分输出：无
位数：14，通道数：8，功率 (W)：158 mW，电压 - 供电，模拟：1.7V ~ 1.9V，3.15V ~ 3.6V，5V，电压 - 供电，数字：1.7V ~ 1.9V
工作温度：-25℃~+85℃，最大电源宽度(Vdd-Vss)：6V，输入失调电压(Vos)：50000uV，共模抑制比(CMRR)：60dB
工作电压：10V~40V，芯片类型参数/描述：PWM-模拟转换器，工作温度：-40℃~+85℃